HAST高壓加速老化試驗箱參數特點

HAST高壓加速老化試驗箱是在非飽和濕度、溫度、壓力等條件下，檢測產品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。HAST高壓加速老化試驗箱適用于PCB線路板、集成線路(芯片)、半導體封裝等測試，如測試半導體封裝，則用來測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿都膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故障原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。

　　HAST高壓加速老化試驗箱產品特點：

　　1、內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規范。

　　2、多重保護功能：

　　內箱安全裝置，箱門若未關緊機器則無法啟動;

　　當內箱壓力超過蕞大工作值自動排氣泄壓;

　　各種超壓超溫，干燒漏電 及誤操作等多重人機保護。

　　3、濕度自由選擇：

　　飽和與非飽和濕度可自由設定

　　4、知能化高：

　　支持電腦連接利用USB可將數據、曲線可導出保存。

　　5、通電測試：

　　6、可根據客戶需求選擇定制造多個測試端子，以滿足帶電測試功能。

　　7、壓力數據真實呈現：

　　壓力值采實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度。