HAST高壓加速老化箱測試要求

HAST高壓加速老化試驗箱適用于電子原器件，LED封裝，芯片(IC)、集成電路、閃存等檢測。

　　經市場調研高壓加速老化試驗箱HAST，

　　在溫度130℃、濕度85%RH、壓力230kPa的溫濕度壓力測試條件是行業里的標準要求也是更能滿足客戶常用的試驗需求。

　　艾思荔技術優勢：

　　內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規范，

　　HAST試驗箱干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式;

　　可選購多個BIAS電壓端子，根據自己的需求選擇

　　出色的溫濕度jing密控制邏輯，防止待測品潮濕與結露的模式選擇;

　　壓力值采實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度;

　　可滿足測試標準

　　GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

　　IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)

　　JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命

　　JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試

　　JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮

　　JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命(IC壽命試驗)

　　JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗(HAST)

　　JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)